التحليل الالتفافي لعوامل التجهيزات المؤثرة على شكل الحيود: Convolution analysis of the instrumental factors affecting diffraction profile
المؤلف:
أ.د. نعيمة عبد القادر أحمد / أ.د. محمد أمين سلمان
المصدر:
علم البلورات والاشعة السينية
الجزء والصفحة:
ص341
2023-10-04
1413
لمعرفة تأثير أي جهاز للحيود على قمة الانعكاس فإن القمة يمكن تحليلها باعتبار أن الشكل الجانبي للقمة (ε) h هو عبارة عن تعانق (convolution) بين شكل الحيود النقي (pure) (ε) f ودالة الأجهزة المستخدمة (ε) g.
والكمية (ε) h تعرف عند علماء الرياضة بأنها التعانق (fold) بین (ε) g، (ε) f والدالة g تعبر عن تأثير الأجهزة على الدالة النقية (ε) f والمتغير ε هو مقياس الانحراف الزاوي لأي نقطة عن القيمة النظرية لزاوية التشتت 2θ0 وهي والمتغير ζ الإضافي لهما نفس الوحدات dimensions.
الاكثر قراءة في مواضيع عامة في الفيزياء الصلبة
اخر الاخبار
اخبار العتبة العباسية المقدسة
